PCA and K-means clustering applied to Raman and PL imaging reveal structural defects in silicon wafers, enhancing understanding of optoelectronic performance.
2026科研热点采用机器学习（ML）技术（包括无监督、有监督、强化学习等），结合密度泛函理论（DFT）、分子动力学模拟（MDS）及实验数据，构建数据库并优化模型，提高了ML在高能量密度电池材料（正负极、电解质）设计、固态电解质开发、快充技术优化、电池 ...
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